目前LXI在电子产品老化试验中的应用

LXI,在电子产品老化试验中的应用

摘要:

本文详细介绍了LXI C 类产品在电子产品长时间通电老化试验中的应用，并给出了系统主要配置、主要设计思想和设计途径。该系统已经应用到实际的生产中，并作为正式产品推广应用。

1 引言

电子产品的长时间通电老化试验是电子产品的一个重要试验，主要用于电子产品的可靠性验证。通常做法是: 1)接入相关电源，并启动电子产品; 2)按要求进行连续加电，定时进行人工记录; 3)对异常情况进行报警灯显示(如果有老化台)。

这种做法对于小批量产品或试样产品而言，是行的通的，但会存在以下问题:

·需要长时间有人值守;

·需要人工记录数据，对于产品异常数据，不利于数据分析和统计;

·数据记录缺乏一致性

以上两点实际上会影响到产品的故障的有效跟踪。对于大批量生产的产品，还存在人员效率低等问题。

如果采用自动测试设备来完成长时间通电老化试验，即用自动老化试验系统取代人工老化台，上述问题都得到解决，但一个非常大的因素阻碍着自动老化试验台的组建，价格做到帐、卡、物符合!

电子产品的老化试验的一个最显著的丈量系统自动清零；特点是对老化试验系统的测试通道数量要求大，而测试参数和测试功能相对简单，若采用GPIB 和VXI 仪器，费用会非常昂贵。

本应用中采用了Agilent 的L将来5~10年XI C 类产品34980A，情况就大不一样了。关于34980A 的性能见本文第3 节的描述。

2 电应力筛选试验

电子产品的长时间通电老化试验属于电应力筛选试验的一种，主要用于电路系统的考核以及元器件的筛选，是大多数电子产品必须做的一项试验，旨在考核电子产品在长时间连续通电工作之中及之后的性能。

在长时间通电老化试验中，连续加电时间和累计加电时间因电子产品的设计条件不同而不同。

长时间通电老化试验与其他的环境应力试验相结合，可以全面考核电子产品的性能。在元器件筛选中增加筛选的有效性。

通过我们研制的LXI自动老化试验系统，可以完成5类电子产品的通电老化试验，并对电子产品的工作状态和工作参数进行监测，对异常情况进行记录，并具有可定时开启目前或关闭试验系统等功能。该系统从根本上改变了原有老化台的工作模式，为电子产品的性能确认提供了真实准确的试验数据。

3 34980A 的特点

34980A是Agilent 公司推出的一款开关与测量系统。它既可以看成一台独立的仪器，今年上半年作为34970A 的换代产品，用于构建小型数据采集系统; 又可以根据具体应用构建复杂的测试系统(大型数据采集和功能测试)。由于3规范运行4980A 具有19 类不同的模块可以选用，因而为测试系统的组建提供了一个合适的基本平台。关于34980A 用于功能测试的应用，可参见另一篇应用文章: 《用LXI 构建高效的试验系统》。

34980A的第二个特点是它基于了LXI 技术，即34980A为LXI C 类产品。LXI(英文LAN eXtensions for Instrumentation的缩写)总线技术是继GPIB、VXI、PXI 总线技术之后的又一新的开放式测试总线技术。34980A的这个特性极大地简化了测试系统组建时系统连接的难度。

34980A 的第三个特点是功能完备、体积小。它具备了组建系统平台的基本模块，使得系统可以非常方便地在此基础上进行扩展。

34980A 另一个最大的优点是性价比高。与相同配置的VXI 和PXI 相比，34980A的性价比要高出许多。这一点可以查阅相关的VXI 和PXI 资料。

上述几点原因使得电子产品的LXI 自动老化系统成为可能。

4 LXI 自动老化试验系统设计

根据电子产品老化系统的特点，LXI 自动老化试验系统的设计必须考虑以下问题:

·电源的功率;

·测试通道数;

·数据监测和故障报警;

·测试接口和夹具连接;

·数据存储和定期整理;

·数据统计和故障模式统计*

除此之外，提高测试系统自身的可靠性、降低费用也是本系统设计的一个重要目标值。

在LXI 自动老化试验系统中，采用34980A 作为基本测平台，Agilent 5700A 作为基本供电电源。34980A 中的通用继电器开关34937A 完成对N5700A 的供电输出控制。

N5700A 在系统应用程序的控制下，可以根据要求改变输出电压大小。LXI 自动老化试验系统的基本配置如表1。